伪集成电路检测与防护

定　　价：125 元

• 作者：(美) 马克（穆罕默德）·德黑兰尼普尔等著
• 出版时间：2022/7/1
• ISBN：9787118125009
• 出 版 社：国防工业出版社

• 中图法分类：TN407 
• 页码：248
• 开本：24cm

内容简介

伪集成电路是指不符合正品集成电路设计规范要求的非授权产品, 主要形式包括回收、重标记、超量生产、不合格/有缺陷、克隆、伪造文件, 以及篡改等, 会大大降低应用系统的安全性和可靠性。本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。