专利视角下的半导体量检测关键技术

定　　价：99 元

• 作者：国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心
• 出版时间：2024/9/30
• ISBN：9787513094962
• 出 版 社：知识产权出版社

• 中图法分类：G306 
• 页码：228
• 版次：1
• 开本：16开

内容简介

本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析，重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况，研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势，不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑，而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。本书是了解该行业技术发展现状并预测未来走向、帮助企业做好专利预警的必备工具书。

作者介绍

国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心成立于2011年9月，是国家知识产权局专利局直属事业单位，受国家知识产权局专利局的委托承担如下工作：发明专利申请的实质审查；PCT国际申请的国际检索和国际初步审查；承办上级交办的其他事项。