中子单粒子效应_陈伟等_9787030710345

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中子单粒子效应

定　　价：135 元

作者：陈伟等
出版时间：2022/6/1
ISBN：9787030710345
出版社：科学出版社

中图法分类：O571.24
页码：224
纸张：
版次：31
开本：B5

读者对象:本书可供从事辐射物理专业的学生以及抗辐射加固技术研究人员参考

高能宇宙射线与大气相互作用产生大量次级中子，在半导体器件中引起中子单粒子效应，可导致电子系统产生软错误或者硬损伤，影响飞机或者临近空间飞行器飞行的可靠性和安全性。本书主要介绍大气中子辐射环境及建模、中子辐射模拟装置和中子辐射环境测量技术、中子单粒子效应机理与数值模拟方法，以及实验方法和数据处理方法，并给出单能中子源、散裂中子源、核反应堆、高山等典型环境的中子单粒子效应实验结果。

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