CEI测量技术原理、系统设计与应用

定　　价：99 元

丛书名：中国航天科技前沿出版工程·中国航天空间信息技术系列

• 作者：黄磊、刘友永、陈少伍、孟玮
• 出版时间：2024/5/1
• ISBN：9787302660675
• 出 版 社：清华大学出版社

• 中图法分类：O4-34 
• 页码：184
• 版次：1

内容简介

CEI（connected element interferometry，连线干涉测量，也可称为“短基线干涉测量”）技术是干涉测量技术的一种，其基线长度一般为几十千米； 其通过对载波相时延的测量，进而实时获得目标相对于基线矢量的精确角位置，可适用于中高轨卫星的高精度测定轨及相对定位。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》重点介绍了CEI技术的基本原理，CEI系统的设计构建，实现CEI所突破的关键技术，以及CEI技术的工程应用实例；内容丰富全面，理论与实践并重。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》有助于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI技术的工作原理及CEI系统实现方法，具有较高的参考价值。