典型有机高分子材料的储存老化性能与失效分析

定　　价：168 元

• 作者：杨强，魏齐龙，孙朝明著
• 出版时间：2024/2/1
• ISBN：9787118129816
• 出 版 社：国防工业出版社

• 中图法分类：TB324 
• 页码：29,156,20页
• 版次：1
• 开本：26cm

内容简介

本书系统论述了典型有机高分子材料在贮存过程中的老化性能变化情况，重点阐述了聚碳酸酯、聚砜、有机玻璃等材料的辐射老化行为与寿命评估技术，以及这些材料在温度、湿度、应力等老化条件下的力学性能、平均分子量、热稳定性、结构尺寸等指标的变化情况。在本书的核心章节，首先针对聚碳酸酯、聚砜、有机玻璃的辐射老化进行了论述；其次，介绍了它们的贮存老化性能；然后，论述了聚碳酸酯螺套部件贮存开裂的原因及机理；最后，介绍了环氧树脂金属粘接件的贮存老化性能。同时，本书对高分子材料老化研究的发展趋势与前景进行了展望。