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光幕阵列测试技术及应用

光幕阵列测试技术及应用

定  价:34.5 元

        

  • 作者:倪晋平 著
  • 出版时间:2014/1/1
  • ISBN:9787118088878
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:TJ012 
  • 页码:264
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:大16开
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    《光幕阵列测试技术与应用》编著者倪晋平。
     《光幕阵列测试技术与应用》围绕常规兵器外弹 道参数领域中使用的光幕测试技术,详细介绍光幕的 构建、工作原理以及光幕探测与测试中的工程技术。
    全书共分7章,主要叙述双光幕测试弹丸初速、多光 幕阵列测试弹丸着靶坐标等参数的测量原理和设计技 术,探索采用光幕阵列测试多目标的方法,最后总结 光幕测试技术在常规兵器试验场的应用。书中融入了 作者及作者所在团队20余年从事常规兵器外弹道试验 与测试研究工作的经验和实践体会,纳入了作者及团 队近年来在国内外发表的十余篇论文以及有关专利的 内容。
     本书对光幕测试弹丸飞行速度和着靶坐标的技术 叙述详尽,测量公式的推导力求系统、深入,可供本 领域的科学研究人员与工程技术人员参考,也可以作 为有关专业高等学校的本科生、研究生和教师的参考 书。
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